Attenuation bias when measuring inventive performance


Zwick, Thomas ; Frosch, Katharina


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URL: https://ub-madoc.bib.uni-mannheim.de/40665
URN: urn:nbn:de:bsz:180-madoc-406650
Dokumenttyp: Arbeitspapier
Erscheinungsjahr: 2016
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe: ZEW Discussion Papers
Band/Volume: 16-014
Ort der Veröffentlichung: Mannheim
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Sonstige Einrichtungen > ZEW - Leibniz-Zentrum für Europäische Wirtschaftsforschung
MADOC-Schriftenreihe: Veröffentlichungen des ZEW (Leibniz-Zentrum für Europäische Wirtschaftsforschung) > ZEW Discussion Papers
Fachgebiet: 330 Wirtschaft
Fachklassifikation: JEL: C33 , C52 , O31,
Freie Schlagwörter (Englisch): Measurement error , inventive performance , observation period
Abstract: Most previous results on determinants of inventive performance are biased because inventive performance is measured with error. This measurement error causes attenuation bias. More specifically, for example age and education as drivers of patenting success have biased coefficients and too high standard errors when inventive performance is measured in short observation periods. The reason for measurement errors in inventive performance is that patents are typically applied for in waves.




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