Effect of Al Concentration Analyzed by ICP-OES on the Structural, Electrical and Optical Properties of Co-sputtered ZnO:Al Films

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Energy Procedia. 2015, 77, pp. 687-693. eISSN 1876-6102. Available under: doi: 10.1016/j.egypro.2015.07.098
Zusammenfassung
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Fachgebiet (DDC)
530 Physik
Schlagwörter
Konferenz
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Zitieren
ISO 690GORGULLA, Angelika, Dominik P. ERTEL, Michael STEYER, Giso HAHN, Barbara TERHEIDEN, 2015. Effect of Al Concentration Analyzed by ICP-OES on the Structural, Electrical and Optical Properties of Co-sputtered ZnO:Al Films. In: Energy Procedia. 2015, 77, pp. 687-693. eISSN 1876-6102. Available under: doi: 10.1016/j.egypro.2015.07.098
BibTex
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  doi={10.1016/j.egypro.2015.07.098},
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