Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4087
Autor(en): Rieber, Jochen M.
Allgöwer, Frank
Stemmer, Andreas
Titel: Schneller sehen durch Regelungstechnik - Moderne Bildgebung in der Nanotechnologie
Erscheinungsdatum: 2004
Dokumentart: Zeitschriftenartikel
Erschienen in: Wechselwirkungen, Jahrbuch aus Lehre und Forschung der Universität Stuttgart (2004), S. 101-109
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-29264
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4104
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4087
Zusammenfassung: Die Nanotechnologie, also die Wissenschaft von Untersuchungen und Manipulationen im Nanometermaßstab, wird als eine der Schlüsseltechnologien des 21. Jahrhunderts angesehen. Wichtige Komponenten dieses aktuellen Forschungszweiges sind das Rastertunnelmikroskop und das Rasterkraftmikroskop, die den Blick in die Nanowelt erlauben. Dieser Artikel gibt einen einführenden Einblick in die Bildgebung der Nanowelt und versucht, den Beitrag von Systemtheorie und Regelungstechnik für die Nanotechnologie anhand der Regelung von Rasterkraftmikroskopen allgemeinverständlich zu beschreiben.
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

Dateien zu dieser Ressource:
Datei Beschreibung GrößeFormat 
Rieber_Allgower_Stemmer.pdf3,37 MBAdobe PDFÖffnen/Anzeigen


Alle Ressourcen in diesem Repositorium sind urheberrechtlich geschützt.