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http://dx.doi.org/10.18419/opus-7055
| Autor(en): | Staiger, Joachim Groß, Peter Lassmann, Kurt Bracht, Hartmut Stolwijk, Nicolaas A. |
| Titel: | Phonon spectroscopy of defects correlated with the diffusion of Zn into Si |
| Erscheinungsdatum: | 1994 |
| Dokumentart: | Zeitschriftenartikel |
| Erschienen in: | Materials science forum 143/147 (1994), S. 675-680. URL http://dx.doi.org./10.4028/www.scientific.net/MSF.143-147.675 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-47272 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7072 http://dx.doi.org/10.18419/opus-7055 |
| Zusammenfassung: | We analyse by phonon spectroscopy low lying phonon scattering states from defects that are introduced by the diffusion of Zn into thick Si wafers. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung |
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