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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4313
| Autor(en): | Leonhardt, Klaus Kaufmann, Ekkehart Tiziani, Hans J. |
| Titel: | Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensor |
| Erscheinungsdatum: | 1984 |
| Dokumentart: | Zeitschriftenartikel |
| Erschienen in: | Optics communications 51 (1984), S. 363-367. URL http://dx.doi.org./10.1016/0030-4018(84)90117-2 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60879 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4330 http://dx.doi.org/10.18419/opus-4313 |
| Zusammenfassung: | A new procedure to determine simultaneously a horizontal descriptor of the surface - the autocorrelation width - and the most important vertical descriptor - the root-mean-square roughness - is presented. It is based on the inversion of an analytic contrast formula. After a short introduction to white light random phase contrast measurement we describe the elimination process and show first experimental verifications. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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