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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4315
| Autor(en): | Leonhardt, Klaus Rippert, Karl-Heinz Tiziani, Hans J. |
| Titel: | Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und Mikroprofilometrie |
| Erscheinungsdatum: | 1985 |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag |
| Erschienen in: | Rosenbruch, Klaus-Jürgen (Hrsg.): Charakterisierung und Messung von Oberflächenfehlern an optisch wirksamen Flächen : PTB-Symposium am 27. Juni 1985. Braunschweig : PTB, 1985 (PTB-Bericht, Opt. 19), S. 80-111 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60898 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4332 http://dx.doi.org/10.18419/opus-4315 |
| Zusammenfassung: | In diesem Beitrag werden wegen der Kürze der Darstellung nur einige der bekannten Verfahren behandelt. Zwei Verfahren der Mikroprofilometrie, die im Institut für Technische Optik Stuttgart zur Zeit bearbeitet werden und ein Verfahren der integralen Rauheitsmessung, das in unserem Institut entwickelt wurde, werden ausführlicher beschrieben. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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