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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4351
Autor(en): | Joenathan, Charles Pfister, Berthold P. Tiziani, Hans J. |
Titel: | Contouring by electronic speckle pattern interferometry employing dual beam illumination |
Erscheinungsdatum: | 1990 |
Dokumentart: | Zeitschriftenartikel |
Erschienen in: | Applied optics 29 (1990), S. 1905-1911. URL http://dx.doi.org./10.1364/AO.29.001905 |
URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61451 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4368 http://dx.doi.org/10.18419/opus-4351 |
Zusammenfassung: | In this paper we extend and study the method for generating contours of diffuse objects employing a dual beam illumination coupled with electronic speckle pattern interferometry. The sensitivity and the orientation of the contour planes are analyzed. A novel method for tilting the planes of contours and experimental results incorporating phase shifting and fringe analysis are also presented. The theoretical and the experimental results show good agreement. |
Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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