Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.18419/opus-7947
Autor(en): Schmid, Detlef
Camposano, Raúl
Kunzmann, Arno
Rosenstiel, Wolfgang
Wunderlich, Hans-Joachim
Titel: The integration of test and high level synthesis in a general design environment
Erscheinungsdatum: 1986
Dokumentart: Konferenzbeitrag
Erschienen in: Integrated circuit technology : proc. of the Integrated Circuit Technology Conference. Dublin : Boole Pr., 1986. - ISBN 0-906783-67-4, S. 317-331
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73530
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7964
http://dx.doi.org/10.18419/opus-7947
Zusammenfassung: This paper describes the integration of new tools for both test and synthesis of integrated circuits. The presented design system CADDY (Carlsruhe Digital Design System) automatically transforms a functional description into a circuit structure. Besides this logic synthesis the system also automatically integrates a complete or incomplete scan path. The software tool PROTEST (PRObabilistic TESTability analysis tool) determines the random testability of the combinational parts of synthesized circuits and suggests optimized input signal probabilities to minimize the necessary test length. To generate these test patterns on chip a specific test hardware is proposed.
Enthalten in den Sammlungen:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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