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http://dx.doi.org/10.18419/opus-7947
Autor(en): | Schmid, Detlef Camposano, Raúl Kunzmann, Arno Rosenstiel, Wolfgang Wunderlich, Hans-Joachim |
Titel: | The integration of test and high level synthesis in a general design environment |
Erscheinungsdatum: | 1986 |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag |
Erschienen in: | Integrated circuit technology : proc. of the Integrated Circuit Technology Conference. Dublin : Boole Pr., 1986. - ISBN 0-906783-67-4, S. 317-331 |
URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73530 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7964 http://dx.doi.org/10.18419/opus-7947 |
Zusammenfassung: | This paper describes the integration of new tools for both test and synthesis of integrated circuits. The presented design system CADDY (Carlsruhe Digital Design System) automatically transforms a functional description into a circuit structure. Besides this logic synthesis the system also automatically integrates a complete or incomplete scan path. The software tool PROTEST (PRObabilistic TESTability analysis tool) determines the random testability of the combinational parts of synthesized circuits and suggests optimized input signal probabilities to minimize the necessary test length. To generate these test patterns on chip a specific test hardware is proposed. |
Enthalten in den Sammlungen: | 15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung |
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