Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden

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10474_MiriamRauer_Dissertation_OPUS.pdf (16.83 MB)
Diss. Reihe Maschinenbau, Band 313

Language
de
Document Type
Doctoral Thesis
Issue Date
2019-02-20
Issue Year
2018
Authors
Rauer, Miriam
Editor
Franke, Jörg
Hanenkamp, Nico
Merklein, Marion
Schmidt, Michael
Wartzack, Sandro
Publisher
FAU University Press
ISBN
978-3-96147-158-4
Abstract

A high-quality joint between LED and substrate is mandatory to take advantage of the whole potential of LEDs and to avoid premature failures. In this thesis the influence of voids in solder joints on the reliability of high power LEDs is investigated with thermo-mechanical and mechanical reliability tests as well as FEM simulations.

Abstract

Um das gesamte Wertschöpfungspotenzial von LEDs ausnutzen zu können und einen vorzeitigen Ausfall zu vermeiden, ist eine qualitativ hochwertige Fügeverbindung zwischen LED und Substrat unabdingbar. In dieser Arbeit wird der Einfluss von Poren in Lötverbindungen auf die Zuverlässigkeit von Hochleistungs-Leuchtdioden mittels thermo-mechanischer und mechanischer Zuverlässigkeitstests sowie FEM-Simulationen untersucht.

Series
FAU Studien aus dem Maschinenbau
Series Nr.
313
Citation
mb.fau.de/diss
Notes
Parallel erschienen als Druckausgabe bei FAU University Press, ISBN: 978-3-96147-157-7
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