Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten

Ziel der Arbeit war es, die Einflüsse der Primärionenspezies (Ga, Cs, SF5, Au, Au2, Au3) und -energie (4-25 keV) auf die Emission molekularer Sekundärionen von organischen Substraten zu untersuchen. Als Proben wurden additivfreie LDPE-Folien verwendet, die mit einer Monolage des Antioxidants Irganox...

Verfasser: Kersting, Reinhard
Weitere Beteiligte: Benninghoven, Alfred (Gutachter)
FB/Einrichtung:FB 11: Physik
Dokumenttypen:Dissertation/Habilitation
Medientypen:Text
Erscheinungsdatum:2002
Publikation in MIAMI:23.03.2003
Datum der letzten Änderung:15.12.2015
Angaben zur Ausgabe:[Electronic ed.]
Schlagwörter:TOF-SIMS; polyatomare Primärionen; Additive; Polymere; Sekundärionenmassenspektrometrie
Fachgebiet (DDC):530: Physik
Lizenz:InC 1.0
Sprache:Deutsch
Format:PDF-Dokument
URN:urn:nbn:de:hbz:6-85659548832
Permalink:https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:6-85659548832
Onlinezugriff:dissertation_kersting.pdf

Ziel der Arbeit war es, die Einflüsse der Primärionenspezies (Ga, Cs, SF5, Au, Au2, Au3) und -energie (4-25 keV) auf die Emission molekularer Sekundärionen von organischen Substraten zu untersuchen. Als Proben wurden additivfreie LDPE-Folien verwendet, die mit einer Monolage des Antioxidants Irganox 1010 bedeckt waren. Die Untersuchungen zeigen, dass durch eine Variation der PI-Parameter (Übergang von monoatomaren zu hochenergetischen, polyatomaren Projektilen) die Effizienz der SI-Bildung um mehrere Größenordnungen gesteigert und zugleich eine verstärkte Desorption intakter Molekülionen (geringere Fragmentierung) erreicht werden kann. Zur qualitativen Erklärung dieser beobachteten Abhängigkeiten wird ein einfaches Modell entwickelt. Die durch den molekularen Beschuss erreichten Empfindlichkeitssteigerungen eröffnen neue Möglichkeiten zum analytischen Einsatz der TOF-SIMS wie abschließend einige Beispiele zur Identifizierung, Quantifizierung und Lokalisierung von Additiven zeigen.